可擴(kuò)展型 鐵電分析儀/陶瓷壓電

產(chǎn)品型號(hào)：Huace FE-3000

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-09-19

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

可擴(kuò)展型  鐵電分析儀/陶瓷壓電

Huace FE-3000

   可擴(kuò)展型  鐵電分析儀/陶瓷壓電產(chǎn)品介紹：

Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上較xianjin的設(shè)備，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍并且在世界鐵電測(cè)試領(lǐng)域高測(cè)試精度能力shouquyizhi。在內(nèi)置±10V電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此系統(tǒng)包含HuacePro基本鐵電管理測(cè)試軟件。

 儀器配置：

Huace FE系列鐵電測(cè)試系統(tǒng)在±500V內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)500KHz；此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV、10kV、20kV，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。內(nèi)置完整的專用工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測(cè)試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括專用工控計(jì)算機(jī)主板、CPU(i5 或以上)、RAM(8G 或以上)、固態(tài)硬盤(250G 或以上)、網(wǎng)卡、USB 接口、 VGA 接口、預(yù)裝 Windows 7操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

可擴(kuò)展部件：

可與高低溫冷熱臺(tái)、高溫測(cè)試裝置、探針臺(tái)、高壓放大器、高阻計(jì)、阻抗分析儀、 激光干涉儀、溫控控制器、數(shù)字源表等擴(kuò)展。

Ø 塊體測(cè)試夾具：用于厚膜、塊體鐵電、擊穿測(cè)試可擴(kuò)展變溫功能。

Ø 薄膜四探針探針臺(tái)：室溫到 250℃可用于厚膜鐵電、壓電（e31）、熱釋電測(cè)試。

Ø 薄膜寬溫區(qū)探針冷熱臺(tái)：-196℃到+600℃可用于薄膜和厚膜變溫的鐵電和熱釋電測(cè)試。

Ø 薄膜探針臺(tái)（國產(chǎn)）：室溫鐵電測(cè)試可用于薄膜和厚膜室溫鐵電性能測(cè)試。

  技術(shù)參數(shù)：

Ø內(nèi)置電壓 (可外接高壓放大器) ：±10V （可外接不同型號(hào)放大器）

Ø可外接高壓放大器 （最大可外接20KV高壓放大器需配置高壓防護(hù)模塊）：±20V, ±100V，±200V，±500V，4KV，10kV，20KV

ØADC位數(shù)：18位

Øzui小電荷分辨率：<10fC

Øzui大電荷分辨率：27.6mC

Øzui小面積分辨率：<1μ²

Øzui大面積分辨率：＞100cm²

Øzui大電滯回線測(cè)試頻率：270KHz @10V

Øzuidi測(cè)試頻率：0.03Hz

Øzui小脈沖寬度 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備) ：0.5us

Øzui小脈沖上升時(shí)間(5V)(此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：400ns

Øzui大脈沖寬度：1s

Ø脈沖間最大延遲時(shí)間：40ks

Ø內(nèi)部時(shí)鐘：25ns

Øzui小的泄漏電流 ：<1pA

Øzui大小信號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz

Øzui小小信號(hào)上限頻率 (此項(xiàng)指標(biāo)優(yōu)于進(jìn)口設(shè)備)：1MHz

Ø輸出上升時(shí)間控制：10³ scaling

Ø輸入電容：~60fF

Ø阻抗輸入：Yes

鐵電系統(tǒng)主機(jī)優(yōu)勢(shì)在于他易于擴(kuò)展、實(shí)用性，軟件系統(tǒng)兼容目前主流品牌，軟件無縫切換。為用戶降低成本。

█ 介電測(cè)試分析模塊

█ 熱激發(fā)極化電流測(cè)試TSDC

█ 擊穿電壓測(cè)試

█ 高壓極化

█ 絕緣電阻測(cè)試

█ 四探針測(cè)試

█ 壓電性能測(cè)試

█ 鐵電參數(shù)測(cè)試

█ 熱釋電性能測(cè)試

█ 居里溫度測(cè)試